ES612A ESD靜電放電測試儀

ESDEMC Technology LLC 由 Wei Huang 于 2011 年 3 月在美國密蘇里州羅拉創(chuàng)立。ESDEMC 開發(fā) ESD 和 EMC 解決方案。公司致力于提供創(chuàng)新、先進(jìn)、高質(zhì)量和具有成本效益的解決方案以及一般咨詢、測試服務(wù)和定制項(xiàng)目。產(chǎn)品包括充電設(shè)備模型 (CDM) 系統(tǒng)、電纜放電事件 (CDE) 系統(tǒng)、ESD 模擬器、脈沖衰減器、電流探頭、用于射頻發(fā)射/免疫的 TEM 電池、高壓直流電源、定制的高壓/射頻設(shè)計(jì)。ESDEMC Technology 自 2012 年以來一直是 ESD 協(xié)會的企業(yè)會員。

ES612A ESD靜電放電測試儀是一款ESDEMC專為評估晶圓級和封裝級器件而設(shè)計(jì)的2引腳測試儀。該系統(tǒng)支持行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)ESD測試模型，包括HBM、HMM和MM。憑借內(nèi)置的直流特性分析功能，可簡化ESD失效閾值的判定流程。為增強(qiáng)系統(tǒng)靈活性，ES612A可選配多引腳繼電器模塊或基于繼電器的HBM/MM/LU ATE擴(kuò)展模塊，最高支持512個(gè)引腳，是進(jìn)行器件全面認(rèn)證與可靠性測試的理想解決方案。

系統(tǒng)的脈沖源設(shè)計(jì)與脈沖傳輸方式，確保了波形能夠精準(zhǔn)傳遞到被測器件本身。每一次ESD事件中的電流波形均可被自動采集并分析。同時(shí)，系統(tǒng)也能采集電壓波形，用于確定保護(hù)電路的啟動電平。這些電壓波形還可作為失效判定的另一個(gè)重要手段，因?yàn)镋SD事件后器件的直流特性參數(shù)會發(fā)生變化。

產(chǎn)品特性

■ 具備高精度脈沖的低寄生參數(shù)HBM/HMM/MM測試儀

■ 高度可配置與可擴(kuò)展，最高支持512個(gè)引腳

■ 兼容探針臺操作

■ 配備大型觸摸屏，支持固件升級

■ 可選閂鎖測試功能

■ 可選軟件控制的自動化脈沖及失效測量

■ 可選脈沖IV及靜態(tài)IV特性分析

■ 可選配UPS電源斷電持續(xù)工作時(shí)間（≥5min）

■ 閂鎖模塊部分支持后續(xù)升級“動態(tài)閂鎖"

■ 閂鎖模塊可根據(jù)客戶需求定制測試夾具板

■ 支持HBM測試前后I-V曲線同坐標(biāo)下對比

ES612A ESD靜電放電測試儀產(chǎn)品應(yīng)用

■ 通用器件級ESD測試：適用于晶圓、封裝器件、PCB及系統(tǒng)級設(shè)備

■ HBM模塊：符合 ANSI/ESDA/JEDEC JS-001、MIL-STD-883、AEC-Q-101-001、AEC-Q100-002、GJB548C及 MIL-STD-750 標(biāo)準(zhǔn)

■ HMM模塊：符合 ANSI/ESD SP5.6 標(biāo)準(zhǔn)（50歐姆方法）

■ MM模塊：符合 ANSI/ESD STM5.2、JEDEC/JESD22-A115標(biāo)準(zhǔn)

■ 閂鎖（LU）測試：符合JEDEC JESD78、AEC-Q100-004標(biāo)準(zhǔn)，支持Overvoltage-Test、I-Test

■ 外置VF-TLP模塊：專為超快上升時(shí)間應(yīng)用而設(shè)計(jì)

產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格

上海正衡電子科技有限公司shzhtech是一家集儀器儀表的代理銷售，測試方案的提供，售前售后的技術(shù)支持與儀器儀表的維修為一體的多元化公司。致力于為相關(guān)領(lǐng)域的客戶提供專業(yè)的完整測試解決方案，技術(shù)培訓(xùn)，維修服務(wù)。